131 1300 0010
MOS管
当前位置: 首页>> 元件技术>>MOS管>>
  • 导航栏目
  • 二极管
  • 整流桥
  • MOS管
  • 其他
  • MOS管损坏的原因及解决方案
    MOS管损坏的原因及解决方案
  • MOS管损坏的原因及解决方案
  •   发布日期: 2021-11-07  浏览次数: 6,376

    mos管是金属(metal)—氧化物(oxide)—半导体(semiconductor)场效应晶体管,或者称是金属—绝缘体(insulator)—半导体。MOS管的source和drain是可以对调的,他们都是在P型backgate中形成的N型区。在多数情况下,这个两个区是一样的,即使两端对调也不会影响器件的性能。这样的器件被认为是对称的。

    Mos损坏主要原因:

    过流:持续大电流或瞬间超大电流引起的结温过高而烧毁;

    过压:源漏过压击穿、源栅极过压击穿;

    静电:静电击穿,CMOS电路都怕静电

    第一种:雪崩破坏

    如果在漏极-源极间外加超出器件额定VDSS的电涌电压,而且达到击穿电压V(BR)DSS (根据击穿电流其值不同),并超出一定的能量后就发生破坏的现象。

    在介质负载的开关运行断开时产生的回扫电压,或者由漏磁电感产生的尖峰电压超出功率MOSFET的漏极额定耐压并进入击穿区而导致破坏的模式会引起雪崩破坏。

    典型电路:

    641

    第二种:器件发热损坏

    由超出安全区域引起发热而导致的。发热的原因分为直流功率和瞬态功率两种。

    直流功率原因:外加直流功率而导致的损耗引起的发热

    导通电阻RDS(on)损耗(高温时RDS(on)增大,导致一定电流下,功耗增加)

    由漏电流IDSS引起的损耗(和其他损耗相比极小)

    瞬态功率原因:外加单触发脉冲

    负载短路

    开关损耗(接通、断开) *(与温度和工作频率是相关的)

    内置二极管的trr损耗(上下桥臂短路损耗)(与温度和工作频率是相关的)

    器件正常运行时不发生的负载短路等引起的过电流,造成瞬时局部发热而导致破坏。另外,由于热量不相配或开关频率太高使芯片不能正常散热时,持续的发热使温度超出沟道温度导致热击穿的破坏。

    641-1641-2

    第三种:内置二极管破坏

    在DS端间构成的寄生二极管运行时,由于在Flyback时功率MOSFET的寄生双极晶体管运行,导致此二极管破坏的模式。

    641-3

    第四种:由寄生振荡导致的破坏

    此破坏方式在并联时尤其容易发生。在并联功率MOS FET时未插入栅极电阻而直接连接时发生的栅极寄生振荡。高速反复接通、断开漏极-源极电压时,在由栅极-漏极电容Cgd(Crss)和栅极引脚电感Lg形成的谐振电路上发生此寄生振荡。当谐振条件(ωL=1/ωC)成立时,在栅极-源极间外加远远大于驱动电压Vgs(in)的振动电压,公众号:芯片电子之家。由于超出栅极-源极间额定电压导致栅极破坏,或者接通、断开漏极-源极间电压时的振动电压通过栅极-漏极电容Cgd和Vgs波形重叠导致正向反馈,因此可能会由于误动作引起振荡破坏。

    641-4

    第五种:栅极电涌、静电破坏

    主要有因在栅极和源极之间如果存在电压浪涌和静电而引起的破坏,即栅极过电压破坏和由上电状态中静电在GS两端(包括安装和和测定设备的带电)而导致的栅极破坏。

    641-5

    避免MOS因为器件发热而造成的损坏,需要做好足够的散热设计。若通过增加散热器和电路板的长度来供所有MOS管散热,这样就会增加机箱的体积,同时这种散热结构,风量发散,散热效果不好。

    MOS管被损坏的解决方案

    第一MOS管本身的输入电阻很高,而栅源极间电容又非常小,所以极易受外界电磁场或静电的感应而带电,而少量电荷就可在极间电容上形成相当高的电压(U=Q/C),将管子损坏。虽然MOS输入端有抗静电的保护措施,但仍需小心对待,在存储和运输中最好用金属容器或者导电材料包装,不要放在易产生静电高压的化工材料或化纤织物中。组装、调试时,工具、仪表、工作台等均应良好接地。要防止操作人员的静电干扰造成的损坏,如不宜穿尼龙、化纤衣服,手或工具在接触集成块前最好先接一下地。对器件引线矫直弯曲或人工焊接时,使用的设备必须良好接地。

    第二MOS电路输入端的保护二极管,其导通时电流容限一般为1mA,在可能出现过大瞬态输入电流(超过10mA)时,应串接输入保护电阻。因此应用时可选择一个内部有保护电阻的MOS管应。还有由于保护电路吸收的瞬间能量有限,太大的瞬间信号和过高的静电电压将使保护电路失去作用。所以焊接时电烙铁必须可靠接地,以防漏电击穿器件输入端,一般使用时,可断电后利用电烙铁的余热进行焊接,并先焊其接地管脚。

    MOS是电压驱动元件,对电压很敏感,悬空的G很容易接受外部干扰使MOS导通,外部干扰信号对G-S结电容充电,这个微小的 电荷可以储存很长时间。在试验中G悬空很危险,很多就因为这样爆管,G接个下拉电阻对地,旁路干扰信号就不会直通了,一般可以10~20K。这个电阻称为栅极电阻,作用1:为场效应管提供偏置电压;作用2:起到泻放电阻的作用(保护栅极G~源极S)。第一个作用好理解,这里解释一下第二个作用的原理:保护栅极G~源极S:场效应管的G-S极间的电阻值是很大的,这样只要有少量的静电就能使他的G-S极间的等效电容两端产生很高的电压,如果不及时把这些少量的静电泻放掉,他两端的高压就有可能使场效应管产生误动作,甚至有可能击穿其G-S极;这时栅极与源极之间加的电阻就能把上述的静电泻放掉,从而起到了保护场效应管的作用。


  • ·上一篇:
    ·下一篇:
  • 其他关联资讯
    深圳市日月辰科技有限公司
    地址:深圳市宝安区松岗镇潭头第二工业城A区27栋3楼
    电话:0755-2955 6626
    传真:0755-2978 1585
    手机:131 1300 0010
    邮箱:hu@szryc.com

    深圳市日月辰科技有限公司 版权所有:Copyright©2010-2023 www.szryc.com 电话:13113000010 粤ICP备2021111333号